VMR-1515
VMR-1515TZ

VMR-K3040ZC
コンフォーカルNEXIV VMR-K3040ZC

■特長
・最先端パッケージの立体形状の評価が高速・高精度に行える、コンフォーカルNEXIV
・同一視野での2次元測定および高さ測定が可能
・ニコンのオプトメカトロ技術を結集して開発した、まったく新しいタイプの画像測定機
・共焦点光学系を用いて高速、高精度で微細な立体形状を検出、評価
・15倍ズームを備えた明視野光学系での2次元寸法測定も行える、マルチ機能測定装置
・ウェハレベルCSPなどの最先端パッケージ上の微細バンプの製造工程管理や、MEMSやプローブカードなどの微細な複雑構造物の検査などにすばらしい威力を発揮

■仕様

対物レンズ
倍率 1.5× 7.5×
W.D. 24mm 24mm 5mm
共焦点光学系(エリア高さ測定)
最大高さスキャン範囲 1mm 1mm 1mm
視野範囲 8 mm×6 mm 4 mm×3 mm 1.6 mm×1.2 mm
測定精度(2σ) 0.6μm 0.35μm 0.25μm
スキャン時間 1.5秒/FOV
明視野光学系(2次元測定)
変倍方式 電動5段階ズーム(変倍比 15×)
視野範囲 8 mm×6 mm
〜0.53 mm×0.4 mm
4 mm×3 mm
〜0.27 mm×0.2 mm
1.6 mm×1.2 mm
〜0.11 mm×0.08 mm
照明 透過、同軸落射、8分割LED斜光
オートフォーカス TTLレーザAF
本体
ストローク(X、Y、Z) 300 mm×400 mm×150 mm
許容搭載質量 精度保証 20 kg
XY測定精度 U1X/Y 1.5+4L/1000 μm
U2XY 2.5+4L/1000 μm
Z測定精度 1.5+L/150 μm
本体/操作ラック質量 約900 kg / 約250 kg(標準セット時)

供給電源/消費電流

AC 100 〜 240 V ±10% 50/60 Hz / 13 A 〜 6.5 A
環境条件 温度:20℃±0.5K/湿度:70%以下
取得規格 CEマーキング(低電圧/EMC/レーザ)

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